목록기초이론/주파수 분석(FFT Analysis) (1)
싸이러스(Cylos)
진동가속도센서를 적분한 변위와 LVDT 변위 데이터의 비교 시험 ; Comparison test of displacement data integrated from accelerometer and LVDT displacement data
목차1. 장비 구성2. 시험 목적 : 변위 비교3. APS 113 저주파 가진기로 Sine 가진 시험4. APS 113 저주파 가진기로 Narrowband Random (협대역 무작위) 가진5. 결론 위의 그림을 클릭하시면, 싸이러스 홈페이지로 이동합니다 독일 SPEKTRA사의 APS 113 가진기와 mpAnalyzer 분석장비를 사용하여 접촉식 변위 센서인 LVDT와 Dytran 사의 DC MEMS 가속도 센서인 7577A2를 이용하여 저주파에서의 변위 비교를 하였습니다. #01. 장비 구성 1. APS 113 저주파 가진기 (SPEKTRA, 원산지 : 독일) 2. mp Analyzer 및 VibPilot 분석 장비 (m+p International, 원산지 : 독일) 3. 7577A2 DC MEMS..
기초이론/주파수 분석(FFT Analysis)
2024. 10. 31. 09:00